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思瑞扫描型三坐标测量机 CROMA PLUS，一款专为复杂曲面检测而匠心设计的检测设备，搭载高精度扫描控制系统，采用连续扫描技术，实现高速、高精度采样，动态性能好，可扩展多种传感器，被广泛应用于各项复杂曲面的高精度检测任务。
CROMA PLUS三坐标测量机利用 DCC Scanning 扫描模块配合X1扫描测头，可解决具有曲线、曲面等复杂型面零件的检测和逆向要求。同时X 1扫描测头也应用在我们集团的高精度莱兹三坐标上。
再采用不同的扫描模式，例如开线扫描、闭线扫描和自由扫描等，可轻松完成数据采集或与CAD数模比对。
独特的飞行模式减少了运动中的停顿和拐角，从而确保了测量机的工作效率及运行的稳定性。
高硬件配置的CROMA PLUS三坐标测量机搭载业界标杆测量软件PC-DMIS或Rational DMIS，全球装机量超过100,000套，以其直观、强大、便捷等特点得到CMM业内专家的高度评价，为客户提供更加智能的测量方案，为企业提供更加贴近客户需求的服务。
思瑞以集团化的全球供应商平台和标准工艺流程，共同保证CROMA PLUS三坐标测量机的每一个细节，让测量机被广泛应用于汽车、电子、军工、航空航天等领域。
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